ICs83.080.01

G31

中华人民共和国国标准

GB/T9639.1-2008/ISO7765-1:1988

代替GB/T9639-1988

塑料薄膜和薄片抗冲击性能试验方法

自由落镖法第1部分:梯级法

Plastics film and sheeting-Determination of impact

resistance by the free-falling dart methord--Part 1: Staircase methord

(ISO7765-1:1988,IDT)

2008-08-19发布

2009-05-01实施

中华民共和国国家质量监督检验检疫总局

数码防偶

中国国家标准化管理委员会

发布

GBT9639.1-2008/ISO7765-1:1988

前言

GB/T9839塑料薄膜和薄片抗冲击性能试验方法自由落镖法8分为两个部分:

第1部分:梯级法;

第2部分:仪器法

本部分为GB/T9539的第1部分,对应于国际标准ISO7755-1:198塑料薄膜和薄片抗冲击性

能试验方法自由落镖法第1部分:梯级法》。本部分等同釆用国际标准1SO7765-1:1988《料薄膜

和薄片抗冲击性能试验方法自由落镖法第1部分:梯级法》,技术内容上完全相同,仅作少量編辑

性修改。

本部分代替GB/T96391988塑料薄膜和薄片抗冲击性能试验方法自由落镖法》。

本部分与GB/T9639-1988相比主要变化如下

标题增址了“第1部分:梯级法”;

增加了“前言”;

“范围”增加了A法和B法(见1.2、1.3);

第2章增加了“GB/T20220-2006《塑料薄膜和薄片样品平均厚度、卷平均厚度及单位质

量面积的测定称量法(称量厚度)(1SO4591:1992,IT)”和“GB/T6672-201《塑料薄膜

和薄片厚度测定机被测量法》(dtSO4593:193)”

增加了第3章“意义”;

5.1中的“夹具工作压力不小于300kPa”改为“试验时夹具能夹紧试样,试样不发生滑移”;

5.1.1中“环形夹具与试样接触表面须附有橡胶垫圈改为“与试样接触的环形夹具表面须附

有橡胶垫圈,可减少厚度误差”。增加了5.1.2和5.4。调整条款次序

增加了第7章“状态调节和试验环境”

第10章中删除了“试验日期、人员”,增加了“材料厚度和试样厚度变化范围”

本部分由中国轻工业联合会提出。

本部分由全国塑料制品标准化技术委员会归口

本部分负责起草单位:轻工业塑料加工应用研究所、佛山塑料集团股份有限公司

本部分主要起草人:许丽丹陈倩李田华、黄智明、施亚琤。

本部分所代替标准的历次版本发布情况为:

GBT96391988。

GB/T9639.1-2008/ISO7765-1:1988

塑料薄膜和薄片抗冲击性能试验方法

自由落镖法第1部分:梯级法

1范围

1.1GB/T9639的本部分规定了在给定高度的自由落镖冲击下,测定塑料薄膜和薄片试样破损数量

达50%时的能量。以冲击破损质量表示。

本部分适用于塑料薄膜和厚度小于1mm的薄片

1.2两种试验方法

1.2.1A法;落镖头部直径为(38±1)mm,下落高度为(0.66±0.01)m。造用于冲击破损质量为

0.05kg-2kg的材料a

1.22B法:落镖头部直径为(50±1)mm,下落高度为(1.50±0,01)m:适用于冲击破损质量为

0.3kg~2kg的材料

1.3梯级法试验时用于改变落体质量的配重块质量应相同,根据前一个试样是否破损,利用配重块

减少或增加落体质量。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过GB/T9639的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文

件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成

协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本

部分

GB/T29181998塑料试样状态调节和试验的标准环境( idt isc291:1997)

GB/T6672—2001塑料薄膜和薄片厚度洳定机械测量法(idt1sO4593:1993)

GB/T20220-2006塑料薄膜和薄片样品平均厚度、卷平均厚度及单位质量面积的测定称量

法(称量厚度〕(ISO4591:1992,1T)

3意义

3.1在给定条件下,用A法或B法确定试样破损数量达50%的落体质量。但两种方法测得的数据不

能直接比较,也不能比较不同的落体速度落体碰撞表面直径、有效试样直径和试样厚度情况下得到的

数据。在这些试验变量下测得的结果主要取决于薄膜和薄片的加工方法。

3.2材料质量对A法和B法的试验结果影响较大。因此,用该方法测得的数据的置信区间变化较大,

取决于试样的质量量规的均匀度、口型划痕和杂质等等。

33通过建立测试结果和现场使用性能之间的关系,A法和B法可用于规范。

3.4薄膜和薄片的抗冲击性能部分取决于厚度。因此,当厚度在一定范围内变化时,冲击破损质量

不能准确取值,与材料的实际抗冲击性能不符。使用以上两种方法时,测得的试样厚度与试样标称厚度

或平均耳度的偏差不能超过士10%。

4木语和定义

下列术语和定义适用于G/T9639的本部分

GB/T9639.1—2008/ISO7765-1:1988

4.1

冲击破损质量 impact failure mass

在规定的试验条件下,试样破损数量达50%时统计出的落体质量,以m表示

4.2

落体质量 missile mass

落镖、配重块和锁紧环的质量之和。

5仪器

仪器基本构造如图1所示

可调支架

电磁铁

落中C接器,

黄

压缩空气管道

5土0.1n

150m±041

夹厂印胶些

下夹具和胶垫

0

泡泼橡胶

A—钢销,外径6,5mm,长13.5mr;

B—洛镖圆柄,外径6.5mm,长至少115mm,底部长12.5mm;

C—半球形头部;A法直径38mm士1mm,B法—直径50mm±1mm;

砝码

E——锁紧环

图1自由落镖冲击试验机

GB/T9639.1—2008/sO

5.1试样夹具

采用内径(125士2)mrm的上下两件环形夹具。下夹具(定夹具)固定在水平面上。上夹具〔动夹具)

与下夹具应保持平行。试验时夹其能夹紧试样,试样不发生滑移

注:气动夹具应用良好

5.1.1与试样接触的环形夹具表面须附有橡胶垫圈,可减少厚度变化对夹持效果的影响。本设备推荐

采用厚度为(3士1)mm,邵氏硬度A为50~60、内径为(1252mm、外径为(150±3)mm的橡胶垫图。

512当试样滑移超过0.10mm时,可以渐细纱布成合适的砂纸用双面胶带粘在夹具或橡胶垫圈上,

麼损面与试样直接接触。就会产生足够大的夹紧力避免滑移。被少滑移的其他方法如附加夹紧装置或

词整夹紫面,使试样在夹具内虹加紧固,保证其有效直径为(1252m,

5.2电磁铁

电磁铁应能住、地属为2kg的落体。有一个可以接通或断开电磁铁的电源,定心装置可以

使用气动或其他机桫存速转,确保均一重复释放

5.3定位装置

应能将落镖声亚下高度(,6+0.01)mA法)减(1:50=,01)m(B法处。该高度指落镖冲

击面到试样表面的直距离

5.4刨厚量具

测量试样量程为0.9mm-1ma精确到士001mh

5.5缓冲和防卵装置

应能保护性员的安全坏落银冲击表面

锁紧环

内径为7和m,额用螺钉固定在落镖团柄E

5.7落镖

应有一平球形的部,在该头部应装上直径为士0m长至少为15m的一根圆柄,用于

装卸配重块。圆树换接在落课头部平燃面的中热,其纵轴垂直于此平整。四由非磁性材料制成,

其带部有一长为(积02)m的铜销当电磁铁通电。封被吸生。g一落饼的质量偏差为

0.5%。落头部本收无裂痕、擦伤或其他缺陷

51A装;落镖头部的正为3￥1)m,它由光滑、抛光的钟膨所脂或其他硬度相似的低密

度材料制成。

52B法:落镖头部的直得为(50士m,它由光源的地光的列绣钢或其他硬度相似的材料制成

5.8配重块

由不锈钢或黄铜制成的圆柱体,其中心孔的直稀为5士0.1)mm,能与圆柄自由配合

每个配重块必须控制在规定质量的士0.5%以内。建议配重块如下组合

58.1A法,配重块直径为30mm,见表1

表1A法用配重块质量和数量

配重块质量/g

配重块数目/个

2

15

30

8

GB/T9639.1-2008/SO7765-1:1988

5.8.2B法,配重块直径为45mm,见表2。

表2B法用配重块质量和数量

配重块质量/g

配重块数目/个

15

45

58.3如果落体质量超过标准组合中的所有配重块组合,应增大落体质量,可组合使用附加配重块,每

个120g,偏差应在士0.5%(A法)之内,每个180g,偏差应在士0.5%(B法)之内。

6试样

6.1试样应足够大,应从待测材料正确选取试样。试样数量不少于30个

6.2试样应无气泡、折皱、折痕或其他明显缺陷。

6.3试样厚度与标称值的偏差应在士10%之内。

7状态调节和试验环境

7,1按GB/T2918-198的规定,试样在试验前应在温度(23±2)℃、相对湿度(50士5)%的环境中进

行状态调节,调节时间不少于40h。仲裁时,温度为(23士1)℃、相对湿度为(50±2)%。

7.2在与状态调节相同的环境下进行试验

8试验步骤

8.1测量厚度

按GB/T202202005或GBT66722001的规定测量试样的厚度。

注:GB/T5572-2001不适川于压花薄膜和薄片

82仪器准备

8.2,1选择A法或B法对仪器进行设置。

8.2.2使电磁铁通电,将落镖(见5.7)的圆柄垂直插入磁性连接器里。调整落体下落高度(从被夹试

样表面到落镖头部的底部表面的垂直距离)至(0.6±0.01)m(A法)或(1.50±0.01)m(B法)

警告:为安全起见,调节高度时应移走落镖。

8.2.3将预试验试样紧固于环形夹具之间,落镖上不加配重块,断开电磁铁释放落镖,观察落镖冲击试

样点,落镖由试样表面弹开后应及时捕提。必要时调整电磁铁位置,重复预试验,宜到落镖重复冲击被

夹试样中心位置

8.2.4检查试樺任何滑动的迹象。如果有滑动,该试验结果应舍弃。随着落体质量和下落高度的增

加,试样滑动的可能性会增大,有些材料的滑动会更厉害。下列两种方法用于检查试样是否滑动

8.2.4.1在落镖下落前,沿上夹具内壁,在试样表面用记号笔画一个圆圈,但对试样只能施加记号笔本

身的压力。待落镖下落后移开试样前,用另外一种颜色的记号笔画一圆圈,如果在圆周的任何一位置出

现双线,则表示存在滑动

警告:为安全起见,画圆圈时应移走落镖。

8.24.2对于采用橡胶垫圈贴细纱布或砂纸的方式夹紧试样,只需检查冲击后试样夹紧部位的划痕,

如果有,则表明存在滑动。

GB/T9639.1-2008/IsO7765-1:1988

8.3梯级试验(见1.3)

831根据相关材料规定或双方协议,选择使用A法或B法。

832测量并记录试样冲击区域的平均厚度,精确到0.001mm(见8.1)。

8.33选择的落体质量应接近于预计的中击破损质量。将所需数量的配重块加置落镖圆柄上,并装上

锁紧环,使配重块安全固定。

8.3.4选择的配重块△m应与试样的冲击强度相适应。通常△m值约等于5%-15%冲击破损质量

m(,配重块须选择3~6个(至少3个

8.3.5将第一个试样放在下夹具上,确保试样均匀平整、没有折痕,完全覆盖在橡胶垫圈上。与环形夹

具的上夹其夹紧。

8.3.6使电磁铁通电,将落镖放好位置。使电磁铁断电,落镖即下落。如果落镖由试样表面弹开,应及

时捕捉,防止反复冲击试样表面以及冲击损伤落镖的半球接触表面。

8.37检查试样任何滑动的迹象。如果有滑动,该试验结果应舍弃。

8.38检查试样是否破损。在试样背面照明的条件下,试样穿透即为破损,将结果记录在格纸上,详

见图2,用“O”表示不破损,“×”表示破损

8.3.9如果第一个试样破损,用配重块Δm减少落体质量。如果第一个试样不破损,须用配重块△m

增加落体质量。依次继续进行试样,总之,利用配重头减少或增加落体质量,取决于前一个试样是否

彼损

8.3.1020个试样试验后,计算被损的总数N,如果N等于10,试验完成。如果N不等于10,试验应

按如下进行

8.3.10.1如果N<10,补充试样后,继续试验,直到N等于10为止

8.3.10.2如果N>10,补充试样后,继续试验,直到不破损(“O”见8,3.8)的总数等于10为。

9计算与结果表示

冲击破损质量m按式(1)计算,单位为克(g)

mr=m+△m(N-0.5

式中

m试验破损时的最小落体质量,单位为克(g);

△m增减用的相同配重块质量,单位为克(g>

A

式中

n;落体质量为m1时的试样破损数

z;落体质量由m。到m1时的配重块数(mn时,为0)。

式中

N——破损试样总数。

冲击破损质量的计算示例见图2。

GB/T9639.1-2008/ISO7765-1:1988

16

50

X

试样数目/个

X=损

O=不酸损

N=10

A=15

m+(i-1)△m

120

125

h+AH(—0.5)

135

=120+15(-0.5)

159

4

=120+15(1.5-0.5)

165

135g

图2计算示例

10试验报告

试验报告应包括以下内容

)本国棻标准編号;

b)材料名称、种类、生产厂、规格等;

c)材料厚度和试样厚度变化范围;

d)状态调节和试验环境;

e)试验所用方法(A法或B法)

「)冲击破损质量,精确至1g